Eisterer M., Holzapfel B., Hanisch J., Schultz L., Huhne R., Usoskin A., Tendeloo G.V., Pahlke P., Lao M., Meledin A., Sieger M., Stromer J.
Hanisch J., Schultz L., Huhne R., Usoskin A., Pahlke P., Sieger M., Stromer J., Chekhonin P., Skrotzki W.
Ключевые слова: HTS, YBCO, films, PLD process, RABITS process, substrate Ni-W, IBAD process, stainless steel, buffer layers, microstructure, measurement technique
Eisterer M., Holzapfel B., Schultz L., Huhne R., Usoskin A., Pahlke P., Lao M., Hering M., Siegert M., Stromer J.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, IBAD process, template layers, critical caracteristics, PLD process, microstructure, X-ray diffraction, lattice parameter, thickness dependence, texture, critical temperature, critical current density, substrate stainless steel, fabrication, experimental results
Hanisch J., Schultz L., Huhne R., Usoskin A., Pahlke P., Sieger M., Stromer J., Chekhonin P., Skrotzki W.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, substrate Ni-W, IBAD process, RABITS process, comparison, PLD process, microstructure, local distribution, texture
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.